Using HATS2 ? (Highly Accelerated Thermal Shock)2  Testing for Assembly Reflow Simulation, Accelerated Reliability and Robustness of Automotive PCB’s

使?HATS2 ? ( ?加速熱沖擊II代）對PCB進?回流焊、加速可靠性及穩健性測試

該設備的創始人為Bob Neves先生，其在電子電路檢測行業資歷深厚。

Bob Neves 是 Microtek 實驗室的創始人兼董事長/首席運營官，該實驗室是一家第三方測試機構，在中國江蘇和美國加利福尼亞設有公司。他曾擔任 IRTS 公司總裁，該公司是初代 HATS 測試機的制造商。

Neves先生曾擔任國際電子工業聯接協會（IPC）董事會主席。他曾入選 IPC名人堂-IPC 的終身最高榮譽。他曾榮獲 IPC 主席獎和 Dieter Bergman IPC 研究員獎，以表彰他長期以來為電子行業所做的貢獻。Neves先生曾擔任 IPC TAEC 主席、印制電路板總委員會主席、HDI 總委員會主席、印制電路板測試方法工作組主席、實驗室資格（IPC-QL-653）委員會主席，并在其職業生涯中參加了50多個 IPC 技術委員會。他曾擔任 IEC TC91 第 10 工作組印刷布線測試方法主席，還是 IEC T91 印刷電路板和覆銅板工作組成員。他曾擔任加州電路板協會主席。Neves先生發表過數十篇關于可靠性、測試、測試方法和故障分析的文章和技術論文，是庫姆斯《印制電路手冊》第六版中 PCB 可接受性部分的作者。Neves先生教授過許多關于電子系統測試、可靠性和故障分析基礎的課程。

Laya Chen女士也是建立Microtek常州實驗室的團隊成員之一，該實驗室是一家第三方測試機構，在中國江蘇設有公司。她曾擔任 Microtek 常州實驗室董事長助理兼培訓經理。她是經認證的 IPC-A-600 主講師/培訓師，講授過數十門有關印刷電路板 (PCB) 質量和驗收的課程。Laya曾擔任設備、貿易和技術公司 Greater Asa Pacific 的總經理，現任 HATS2? 測試機制造商 Reliability Assessment Solutions 的總經理。Laya 精通英語和漢語（各種方言），并利用這一技能和她的技術知識翻譯了大量不同語言的技術文章、演示文稿和 IPC 文件。她曾擔任 IPC 7-31a 委員會主席，并參加過許多 IPC 技術委員會，獲得過各種委員會服務獎。

用于評估過孔結構的可靠性、魯棒性和組件附著過程生存性的測試設備

設備可測試IPC-2221B D樣品、HATS2?單孔樣品*、基板&定制樣品；每塊試樣最多7個測試通道

每箱可測試72塊IPC D或36塊 HATS2?單孔*/定制樣品

按照IPC-TM-650方法2.6.7.2C進行空氣法高低溫循環試驗

在-65°C到265°C測試溫度范圍內進行快速高低溫循環或回流焊模擬測試；

熱沖擊循環時間減少了60%到80%（每周大約可測試1000 個循環）

按照IPC-TM-650 方法 2.6.27B進行對流回流焊模擬試驗--帶實時電阻監測功能

系統自帶的曲線模擬器可自動模擬任何回流焊曲線

在-65°C至265°C的溫度范圍內進行溫度循環和回流焊模擬的穩健性測試（不限次數）

在全球提供HATS? & HATS2?測試服務

提供詳盡的測試報告包括箱線圖

美國專利號10,379,153。 德國專利號10 2019 006 553.0。 日本專利號7,291,045。中國專利號ZL 2019 2 2142627.1。全球其他專利號更新中。